BLD-200N电子元件包装剥离性能测试仪赛成生产

电子元件包装剥离性能测试仪器  适用于载带剥离强度测试，广泛应用于电子企业。

电子元件包装剥离性能测试仪器 

采用微电脑控制，大液晶屏显示，同时支持专业测控软件，测试数据可以显示zui大值、平均值、实时值和数据曲线。

系统自带过载保护、紧急断电保护等安全操作保护系统，人为操作零故障。

仪器自带微型打印机，设有USB数据接口，连接电脑，可打印输出试验数据，符合国际要求，与ISO，JIS，ASTM，DIN等国际相关标准兼容

电子元件包装剥离性能测试仪器 技术指标：

力值传感器量程，可以选择30N、50N、100N、200N等不同规格。传感器精度1级。

加载速度可调，10-500mm/min。试样夹持宽度，30mm。超大行程可达650mm。

标准
GB 4850、GB 7754、GB 8808、GB 13022、GB 7753、GB/T 17200、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、QB/T 2358

配置：主机、微型打印机、专业软件、通信电缆